专利类型：发明专利

 

申请日：2017-06-22

 

摘要：一种非易失存储器坏块测试方法及系统，涉及数据闪存技术领域，该方法包括：提供一个没有坏块的非易失存储器；标记非易失存储器上至少一个块为坏块；烧录嵌入式软件至非易失存储器；观察嵌入式软件是否正常运行；若嵌入式软件不能正常运行，则检测嵌入式软件不合格。本发明可以提供一个比较好的模拟生产测试方法，预警问题，及时发现及时解决，提高软件的可靠性，节约成本。